標(biāo)準(zhǔn)射線檢測(cè)參考底片(試塊)
標(biāo)準(zhǔn)射線檢測(cè)參考底片(試塊)
件號(hào):RR-1, 品牌:FlawTech, 美國(guó)原裝進(jìn)口。
分類:NDT常規(guī)方法試塊包 射線檢測(cè) 試塊
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產(chǎn)品詳情
產(chǎn)品詳情
共16份射線底片(試塊)
其中有20個(gè)不連續(xù)性缺陷, 內(nèi)含6個(gè)加工缺陷。
- 共10個(gè)材料為碳鋼的試塊底片:
- 4個(gè)平板試塊:0.375″ T
- 3個(gè)平板試塊:0.625″ T
- 1個(gè)T形試塊:0.375″ T
- 2個(gè)管試塊:4″ Sch80 (0.337″ wall)
附帶文件包含:符合性證書、CAD 圖紙、檢測(cè)表格與射線底片。
總重量:2磅。